双束FIB场发射扫描电子显微镜-南京仁研信息技术有限公司

Product产品展示

微观形貌分析

扫描电镜测试分析透射电镜测试分析阴极发光光谱 X射线光电子能谱分析原子力显微镜测试（AFM）原位XPS测试紫外光电子能谱（UPS） EBSD 环境扫描电镜ESEM EELS测试

元素成分分析

X射线粉末衍射元素分析 X射线荧光光谱XRF 变温单晶X射线衍射分析固液态核磁变温测试 ICP测试定硫仪原子吸收光谱 XRD织构 TOC测试 COD测试微区XRD 掠入射反射掠入射衍射气体同位素比值质谱仪

物理化学性能分析

穆斯堡尔谱热重差热分析磁性测试分析气体吸附脱附分析纳米粒度及电位分析压汞分析化学吸附分析电子顺磁共振（EPR）波谱仪导热系数、热扩散系数、比热容测试网络电磁参数接触角测量分析纳米压痕热膨胀系数热重红外光谱联用热重-质谱联用仪（TG/DSC-QMS）滚动角测量分析

有机成分与结构分析

液相质谱联用分析高分辨质谱分析气相质谱测试分析离子色谱 GPC 激光解吸电离飞行时间质谱高效液相色谱

分子谱学表征

变温、原位红外光谱圆二色光谱分析紫外光谱分析吡啶红外飞秒瞬态吸收光谱显微拉曼光谱分析显微荧光光谱分析红外光谱分析仪同步辐射（XAFS）折射率/折射率均匀性荧光/磷光/发光分光光度计热红外成像仪

生物医学检测

显微镜生物电镜透射电泳生物医学检测切片激光共聚焦 MTT/CCK测试细胞检测微生物检测

力学检测

残余应力应力/双折射/应力分布均匀性弹性模量/泊松比粘度测试

电化学

土壤/植株各项分析

土壤/植株各项分析土壤常规八项

产品展示

当前位置：首页 > 产品展示

双束FIB场发射扫描电子显微镜: 发布日期：2022-03-16; 浏览次数：次; 联系人：陈老师; 咨询电话：17130376574; 分享到： QQ空间新浪微博腾讯微博更多; 下一个产品上一个产品

面向学科	Helios Nanolab G3 UC/CX 是用于细胞、组织等生物样品成像的双束扫描电子显微镜：具有Dual Beam—场发射扫描电子双束（SEM）和聚焦离子束（Focused Ion Beam, FIB）：场发射电子枪，电子束加速电压可在350 V - 30 kV之间调节；Ga离子枪，离子束加速电压可在500 V – 30 kV之间调节。借助Dual Beam，FEI AutoSlicer&Viewer软件可实现生物样品在大尺度范围自动化连续断面成像（Serail Block Face Imaging），以实现亚细胞水平的高分辨率数据采集和三维重构。
样品要求	1) 请根据自己样品的性质及测试需求，自行查阅相关资料后，提供详细的测试条件（电压、电流、信号、放大倍数、标尺、理想的照片等） 2) 样品量不少于3 mg。可以接受固体、粉末、薄膜或纤维样品 3) 潮湿的样品不能测试。有机的样品需要具体沟通
收费标准	详情请咨询
测试仪器	仪器名称：双束FIB(FIB+场发射电镜) 仪器型号: Helios Nanolab G3 UC/CX 品牌：FEI
仪器技术参数	场发射电子枪，电子束加速电压可在350 V - 30 kV之间调节；Ga离子枪，离子束加速电压可在500 V – 30 kV之间调节。借助Dual Beam，FEI AutoSlicer&Viewer软件可实现生物样品在大尺度范围自动化连续断面成像（Serail Block Face Imaging），以实现亚细胞水平的高分辨率数据采集和三维重构