样品要求

1)     粉末样品：需要10mg以上的干燥的粉末样品

2)     固体样品：任一边长不大于1cm，厚度不超过2mm

3)     液体样品：易干燥，需要收取制样费用

4)     注意标注：样品有无磁性、毒性、挥发性、腐蚀性、放射性等信息
 

测试仪器

仪器名称：X射线光电子能谱仪

仪器型号：Thermo escalab 250Xi

生产厂家：Thermo fisher

赛默飞 EscaLab 250Xi X射线光电子能谱仪以X射线光电子能谱为主要功能，还带有俄歇电子能谱、紫外光电子能谱、反射电子能量损失谱及离子散射谱等附件功能。
 

仪器技术参数

1)     180ο半球能量分析器

2)     能量范围：0～5,000eV

3)     单色Al Ka (hv =1486.6 eV)，功率150W ；结合能以C1s 284.8校准

4)     X射线束斑面积从900μm到200μm连续可调

5)     大束斑：Ag3d5/2（FWHM＝0.50eV）强度≥400kcps；20µm束斑 ：Ag3d5/2（FWHM＝0.45eV）强度≥0.5kcps；

6)     Mg/Al双阳极XPS                       

7)     大束斑：Ag3d5/2（FWHM＝0.8eV）强度大于650kcps

8)     快速平行成像

9)     对Ag3d5/2线扫描的最佳空间分辨率优于3 μm

主要功能特点

1．  常规XPS，鉴别样品表面的元素种类、化学价态以及相对含量。双阳极XPS，更适合用于不同的特殊过渡金属元素的研究，如催化领域。

2．  微区XPS分析（单色化XPS），用于样品微区（＞20μm）表面成分分析，高能量分辨的化学态分析

3．  深度剖析XPS，结合离子刻蚀技术对样品（如薄膜等）进行成分深度分布分析。通过角分辨XPS还可以进行非损伤成分深度分布分析。

4．  XPS成像，可以对元素或化学态进行表面面分布分析，使一些分析结果更直观。

5．  反射电子能量损失谱REELS技术，可实现氢元素的检测。

6．  离子能量损失谱ISS，可实现样品表面元素信息的检测

7．  场发射俄歇AES，可实现样品表面100nm尺寸下的元素信息检测。可以进行成分分析、形貌像分析及扫描俄歇像分析等。

8．  紫外光电子能谱（UPS），可以获得样品价带谱信息，对导体、半导体的带、带隙等分析提供主要数据。还可以分析样品逸出功等。