适用领域
物相定性分析 结晶度及非晶相含量分析
结构精修及解析 物相定量分析
点阵参数精确测量 无标样定量分析
微观应变分析 晶粒尺寸分析
原位分析 残余应力
低角度介孔材料测量 织构及ODF分析
薄膜掠入射 薄膜反射率测量
小角散射
面向学科
化学、化工、高分子、材料、环境、生物、医学、药学、农学、地质、食品、生命科学等
样品要求
1) 粉末样品需要多于50mg2) 粉末样品：应研磨成无颗粒感3) 易变质样品需提前与仪器操作人员联系，预约测试时间4) 请注明样品保存条件，如常规、冷冻、干燥、冷藏、避光等。
测试仪器
仪器名称：X射线衍射仪仪器型号：D8 Advance生产厂家：德国布鲁克
仪器技术参数
Theta/theta立式测角仪
2Theta角度范围：-110~168°
角度精度：0.0001度
Cr/Co/Cu靶，标准尺寸光管
探测器：林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器
仪器尺寸：1868x1300x1135mm
重量：770kg
功率：6.5kW
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