适用领域
化合物半导体
资料存储
国防
显示器
电子领域
光子领域
半导体
光电太阳能
电信
样品要求
20mg
测试仪器
仪器名称:XRR掠入射反射 仪器型号:帕纳科 锐影生产厂家:德国
仪器技术参数
功率3kW或18KW; 稳定度≤0.005% zei快定位速度:1500˚/min 角度重现性:0.0001° zei小步长:0.0001° 闪烁计数器线性范围:1 x 10^6 cps
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