Product产品展示

产品展示
当前位置:首页 > 产品展示
超高分辨率扫描电子显微镜SEM
发布日期:2022-03-16
浏览次数:
联系人:陈老师
咨询电话:17130376574
下一个产品 上一个产品

详细介绍

面向学科


化学、化工、高分子、材料、环境、生物、医学、药学、农学、地质、食品、生命科学等 
 

样品要求粉末10mg以上干燥、非磁性样品。
测试仪器仪器名称:FEI  Nova  Nano SEM场发射扫描电子显微镜  

仪器型号:FEI Nova NanoSEM 450

生产厂家:美国FEI
仪器技术参数


分辨率:0.8nm;

电子着陆电压:20V - 30KV;

电子束束流:0.6 pA - 200 nA;

放大倍数:29´ - 1M´;

探测器:二次电子探测器(ETD、TLD);背散射探测器(CBS);低真空探测器(LVD,Helix);红外CCD。

样品室和样品台:

XY: 110 ´ 110 mm;Z: 0 - 65 mm;

旋转:n ´ 360o;倾斜:-15° / +75°;

样品最大尺寸:Ø 150 mm(需旋转);

Ø 300mm(不需旋转);

样品最大高度:85mm;

样品最大重量:500g;

X射线能谱仪

最新款牛津仪器X-MaxN 型X射线能谱仪是一款使用硅漂移探测器的EDS,集成新型的探测器芯片、电子元器件和新型的包装款式,使其能够发挥新一代硅漂移探测器的性能。

能谱仪技术指标:

分辨率:133eV;

可分别的最低序数元素:Be;

采集方式:点(point)、线(line)、面(mapping);

点采样时间:>60s;


 


Copyright © 2022- All Right Reserved. 版权所有 南京仁研信息技术有限公司      技术支持:腾云建站仅向商家提供技术服务网站地图