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电子能量损失图谱EELS
发布日期:2022-03-16
浏览次数:
联系人:陈老师
咨询电话:13142803925
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详细介绍

适用领域

专为满足各种材料科学样品和应用的性能和效率要 求

 

样品要求

制样在微栅上 最好

收费标准

视样品另议

测试仪器


仪器名称:电子能量损失图谱
仪器型号:Talos F200 F200S/F200X
仪器缩写: EELS
生产厂家:捷克     FEI公司

 

仪器技术参数

Talos F200S
总束电流:>150nA
探针电流:1nA@1nm探针(200 kV)
EDS系统:2 SDD无窗设计,shutter保护
能量分辨率:≤136 eV,对Mn-Kalpha和10kcps(输出)
快速EDS:像素驻留时间低至10 us
Talos F200X
明场X-FEG:1.8×109 A/cm2 srad(@200kV)
总束电流:>50nA
探针电流:2nA@1nm探针(200 kV);0.4 nA@0.31nm探针
EDS系统:2 SDD无窗设计,shutter保护
能量分辨率:≤136 eV,对Mn-Kalpha和10kcps(输出)
快速EDS:像素驻留时间低至10 us



 


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